281025 Methoden zur mikrostrukturellen Charakterisierung von Festkörpern (V) (SoSe 2004)

Kurzkommentar

Inhalt, Kommentar

Die physikalischen Eigenschaften der Festkörper werden maßgeblich durch die vorliegende Mikrostruktur der Festkörper bestimmt. Daher ist es unumgänglich Informationen über diese Mikrostruktur, wie z.B. die Korngrößenverteilung, Schichtdickenfluktuationen, Grenzflächenrauhigkeiten, etc., zu erhalten. Die Vorlesung behandelt daher die in Bielefeld vorhandenen mikrostrukturelle Charakterisierungsmethoden denen eine Quantifizierung der Mikrostrukturparameter zugänglich ist.
Nach einem Exkurs über Kristallographie werden die Röntgenbeugung, die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie, die Augerspektroskopie und der Röntgendichroismus im Detail behandelt und an Beispielen erläutert.

Teilnahmevoraussetzungen, notwendige Vorkenntnisse

Festkörperphysik I

Literaturangaben

Zu den einzelnen Teilgebieten wird jeweils in der Vorlesung geeignete Literatur zusammengestellt.

Lehrende

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Fachzuordnungen

Studiengang/-angebot Gültigkeit Variante Untergliederung Status Sem. LP  
Physik / Diplom (Einschreibung bis SoSe 2008) für vertief. Wahlpflichtfach Wahlpflicht HS
Physik / Lehramt Sekundarstufe II für vertief. Wahlpflichtfach Wahlpflicht HS

Keine Konkretisierungen vorhanden
Kein E-Learningangebot vorhanden
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Hinweise:
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Letzte Änderung Grunddaten/Lehrende:
Freitag, 11. Dezember 2015 
Letzte Änderung Zeiten:
Dienstag, 25. November 2003 
Letzte Änderung Räume:
Dienstag, 25. November 2003 
Art(en) / SWS
Vorlesung (V) / 2
Einrichtung
Fakultät für Physik
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