211435 Dynamic Atomic Force Microscopy (V) (SoSe 2018)

Inhalt, Kommentar

Atomic force microscopy (AFM) is a powerful method for real-space imaging of surfaces with atomic resolution. Several different modes of operation have been developed, dedicated to meet the specific requirements of the given scientific question. In this lecture, the different operation modes will be introduced and discussed in the view of which physical quantity is probed. The three AFM equations will be derived, which provide the basis for obtaining quantitative information within the harmonic approximation.

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Fachzuordnungen

Modul Veranstaltung Leistungen  
21-MA-CM-10LP Ergänzungsmodul Master Chemie/ Biochemie 2 Std. Vorlesung 1 Studieninformation
21-MA-CM-5LP Ergänzungsmodul Master Chemie/ Biochemie 2 Std. Vorlesung 1 Studieninformation

Die verbindlichen Modulbeschreibungen enthalten weitere Informationen, auch zu den "Leistungen" und ihren Anforderungen. Sind mehrere "Leistungsformen" möglich, entscheiden die jeweiligen Lehrenden darüber.


Keine Konkretisierungen vorhanden
Kein Lernraum vorhanden
registrierte Anzahl: 7
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Adresse:
SS2018_211435@ekvv.uni-bielefeld.de
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Falls die Belegnummer mehrfach im Semester verwendet wird können Sie die folgende alternative Verteileradresse nutzen, um die Teilnehmer*innen genau dieser Veranstaltung zu erreichen: VST_119779185@ekvv.uni-bielefeld.de
Reichweite:
4 Studierende direkt per E-Mail erreichbar
Hinweise:
Weitere Hinweise zu den E-Mailverteilern
Letzte Änderung Grunddaten/Lehrende:
Freitag, 25. Mai 2018 
Letzte Änderung Zeiten:
Dienstag, 20. Februar 2018 
Letzte Änderung Räume:
Dienstag, 20. Februar 2018 
Art(en) / SWS
V / 1
Sprache
Diese Veranstaltung wird komplett in englischer Sprache gehalten
Einrichtung
Fakultät für Chemie
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119779185
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